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淺析X熒光光譜儀XRF的優勢所在

2018-12-10      158
   淺析X熒光光譜儀XRF的優勢所在
  X熒光光譜儀XRF整套技術,含多道分析、電氣控制、機械結構和分析軟件。可用于成分分析、礦物分析、貴金屬分析和鍍層測厚分析等。
  X熒光光譜儀XRF相對于市場同類儀器,在成分含量分析算法上有以下優勢:
  1、一鍵式自動元素識别,識别準确率>95%。元素X熒光特征峰比較複雜,一般的自動識别很差,往往需要人工識别。
  2、自動識别逃逸峰、合峰。一般的沒有此識别功能,而是靠人工經驗去扣除。
  3、利用卡爾曼算法對重疊峰進行自動分離。國内光譜對重疊峰分離多還是采用經驗法扣除。
  4、基本參數法(FP法)一直是XRF研究的難題,國内能真正做好FP法的幾乎沒有,雖然很多廠商宣稱自己的軟件實現了FP法,但往往隻能用于大緻的定量分析,根本達不到要求。而我們的FP算法在無标樣情況下能達到主要元素相對誤差在1%以内,少量标樣就能實現大部分元素相對誤差在2%以内。
  5、理論系數法。國内X熒光光譜儀XRF多是用經驗系數法,需要大量标樣。我們在FP法基礎上,采用系數校正數學模型,開發出可以實用的理論系數法,綜合zui接近FP法,但更适合于輕基體樣品分析。
  6、化合物分析。目前能量色散XRF對硫(S)之前的元素很難檢測,一般往往忽略了輕元素對定量分析的影響導緻有時誤差較大。因為FP法的實現,考慮了吸收和增強效應,對化合物分析結果有不可比拟的優勢,在地質、礦産、冶金等行業有更好的應用。
  7、模式識别功能。普遍廠商的X熒光光譜儀XRF不帶樣品自動識别功能,隻能用于已知材料的定量測試。對于未知材料測試容易造成較大誤差。
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