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X熒光光譜儀XRF在各行業的應用現狀

2018-12-13      點擊:169
   X熒光光譜儀XRF在各行業的應用現狀
  德國物理學家倫琴在公元1895年發現了X射線,法國物理學家喬治1896年發現了X射線熒光,Friedman H和Birks L S于1948年首先研制了台商業化的X熒光光譜儀XRF。從20世紀90年代以來,計算機和電子技術迅猛發展,X熒光光譜儀XRF和X射線熒光分析技術以及計算機軟件的不斷開發,X熒光光譜儀XRF現在已經由單一的波長色散X熒光射線光譜儀發展成為擁有能量色散,電子探針,波長色散,質子X射線光譜儀和同步輻射等等。
  XRF分析是對比分析,也是對點的分析;而對比的基準就是标樣,因此,标樣的好壞和是否全面性是直接影響到測試結果的準确度。所以在進行XRF分析的時候,首先要做的就是針對儀器進行标準曲線的标定工作。沒有标準曲線就無法定量分析。
  1.X熒光光譜儀XRF标樣的好壞指的是:标樣的均勻性,已經标樣表面狀況。
  2.标樣的全面性是指:标準樣品元素的含量範圍梯度是否很集全。
  3.最重要的是要注意标樣各元素的結果是否為客戶認可的結果并在XRF設備中是成線性變化的。
  4.而被測樣品一般都建議均勻性,及取樣方式都與标樣接近,這樣測出來的結果才更準确。
  X熒光光譜儀XRF的不斷完善和發展所帶動的X射線熒光分析技術已經被廣泛應用到地質,冶金,礦石,生化,醫療,刑偵,石油,考古等等多個領域。X熒光光譜分析不僅對其物質的化學元素,物相,化學立體結構,物證材料進行測試,對産品和材料質量進行快速無損檢測,對人體進行醫療檢測和微電路的光刻檢測的重要分析手段,也是材料科學,生命科學,環境科學等普遍采用的一種快速準确經濟無損的多元素分析方法。與此同時,X熒光光譜儀XRF也是野外現場分析和過程控制分析等等方面的重要shou選儀器之一。
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